納米掃描探針顯微鏡

納米掃描探針顯微鏡工作模式：

1. 標(biāo)準(zhǔn)工作模式：

1.1 輕敲模式(Vibration mode)

1.2 接觸模式(Contact mode)

1.3 相位成像模式(Phase imaging)

1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

1.5 力曲線測(cè)試（Force curve）可測(cè)楊氏模量

1.6 納米操控 （Nanomanipulation）

1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）

1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）

1.9 摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）

2. 可選工作模式：

2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）

2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）

2.3 導(dǎo)電顯微鏡模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專門從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術(shù)參數(shù)

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nm

Z方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.003 nm

Z方向測(cè)量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm